Erfinder des Jahres 2018

Lebenswerk

Die Halbleiterindustrie wartete händeringend auf eine neue Testmethode.

Janusz Rajski, Digital Factory

Chips sind das Herzstück der Elektronik in Computern, Flugzeugen, Autos, Fahrstühlen und Kraftwerken, aber auch in Smartphones, Kaffeemaschinen und tausenden anderen Geräten. Um ihre Funktionsfähigkeit über die gesamte Lebensdauer zu gewährleisten, werden alle Halbleiter ausführlich getestet, bevor sie verbaut werden.

 

Das war bis in die 1990er Jahre kein Problem: Chips verarbeiteten damals noch relativ geringe Datenmengen, dementsprechend war auch die Menge der Testdaten überschaubar, die durch den integrierten Schaltkreis geschickt wurde. Doch die ständige Verbesserung der Rechenleistung, die sich laut dem Mooreschen Gesetz alle 18 bis 24 Monate etwa verdoppelt, hatte zur Folge, dass die Testläufe vor allem durch den Zeitaufwand immer teurer wurden.

 

Jeder hochintegrierte Prozessorchip muss sehr umfangreichen Tests unterzogen werden, um Milliarden möglicher Defekte zu prüfen. Dementsprechend groß ist die Menge an Testdaten, die gespeichert, auf jeden Chip übertragen und dort gerechnet werden muss. Mit dem von Rajski entwickelten Kompressionsverfahren werden die Testdaten erst auf dem Halbleiter entpackt und die Tests gerechnet. Die Ergebnisse werden vom Chip ebenfalls komprimiert an die Testanlage übermittelt. Unter dem Namen TestKompress brachte Mentor Graphics das neue Verfahren Anfang 2000 auf den Markt.

 

Aus dieser Erfindung ergab sich eine Vielzahl weiterer Entwicklungen. Mentor Graphics erwarb einige auf Testverfahren spezialisierte Unternehmen und baute seine Marktstellung kontinuierlich aus. Rajski selbst ist heute Vice President of Engineering von Mentor Graphics und ein international bekannter Experte.